Строительные исследования
страница - 2
Таблица 1. Статистическая оценка результатов измерений калибровочных образцов .
группы | Пов.плот ность слоя, нг/см2 | 103*(S2) | |||
19K | 24Cr | 33As | 38Sr | ||
1 | 10 | 1.85 | 1.60 | 1.60 | 1.52 |
2 | 30 | 1.85 | 1.68 | 1.30 | 1.02 |
3 | 100 | 1.44 | 1.37 | 1.23 | 1.23 |
4 | 300 | 1.52 | 1.44 | 1.16 | 1.44 |
Gmax | 0.28 | 0.28 | 0.30 | 0.29 | |
103(S02) | 3.96 | 3.92 | 3.62 | 3.73 | |
F | 8.4 | 8.3 | 7.6 | 7.9 | |
(Si2)- дисперсия воспроизводимости измерений gA, где A - K, Cr, As, Sr;
(S02)- остаточная дисперсия рассеяния результатов относительно линейной зависимости nA/nst от mA; Gmax- критерий Кохрена однородности дисперсий (Si2)A;
F- критерий,Б= ftS02 /SB , SB = 1,45*103;
Gmax( а = 0,01,m= 4, f = 3) = 0,7814;
а = 0,01, f1 = 2, f2= 8)=8,7.
Условия проведения измерений и математической обработки энергодисперсионных рентгеновских спектров. Рентгеновские спектры получены на модуле ПВО спектрометра МЭРС [12]. В качестве источника первичного излучения использовалась рентгеновская трубка БСВ-25Мо с источником питания ИРИС-7М при анодном напряжении 30 кВ и токе 10 мА в течение 800 сек. Регистрация спектров производилась полупроводниковым детектором УДЕР-1, имеющим энергетическое разрешение 240 эВ на линии МпК . Полученные рентгеновские спектры образцов обрабатывались согласно алгоритму, изложенному в работе [13], который позволяет учитывать влияние на интенсивность аналитической линии фона перекрытия спектральных линий, отличающихся по амплитуде в несколько сот раз.
Следовательно, с достаточной уверенностью можно принять гипотезу независимости величины коэффициента чувствительности от толщины слоя, которая подтверждается результатами определения величины F- критерия для того же уровня значимости, вычисленного при статистической оценке достоверности линейной калибровочной зависимости nA/nst от количества элементов K, Cr, As и Sr в образце. В целом, результаты указывают на отсутствие существенного источника систематических погрешностей и корреляции между погрешностями измерений и толщиной слоя.
Работа выполнена при финансовой поддержке Российским фондом фундаментальных исследований, проект 01-03-32645a.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ.
1.Aiginger H., WobrauschekP.,Streli С. Analitical Sciences. 1995. V. 11. N 3. P. 471-476.
2.ЛосевН.Ф.,КраснолуцкийВ.П.,ЛосевВ.Н. Зав. лаб. 1993. Т. 59. N 6. С. 20-29.
3.Mori Y., Shimanoe K.andSakon T. Analitical Sciences. 1995. V. 11. N 3. P. 499-504.
4.Краснолуцкий В.П., Лосев Н.Ф., Полуянова Г.И.,Беспалова Л.А . Зав. лаб. 1998. Т. 64. N
6.
5.HouraiM., Naredomi T.,Oka Y., Murakami K.,Sumuita S., Fujino N. andShiraiwa T. Jpn. J. Appl. Phys. 1988. V. 27. P. L2361-L2366.
6.KondoH., Ryuta J.,MoritaE.,Yoshimi T. andShimanuki Y. Jpn. J. Appl. Phys. 1992. V. 31.
L11-L16.
7.M.J.Bedzyk, G.M.Bommarito, J.S.Shildkraut Phis. Rev. Letters 1989 V.69, P.1376.
8.Kregsamer P. Spectrochim Acta. 1991. V. 46B. P. 1333-1340.
9.De Boer D.K.G. Phys. Rev. B. 1991. V. 44. N 2. P. 498-511.
10.De Boer D.K.G. and van den Hoogehof Spectrochim Acta. 1991. V. 46B. N 10. P. 13231331.
11.Смагунова А.Н.,Козлов В.А. Примеры применения математической теории эксперимента в рентгенофлуоресцентном анализе. Иркутск: Издательство Иркутского университета.
1990. C. 232.
12.Краснолуцкий В.П.,Лосев Н.Ф.,Полуянова Г.И Заводская лаборатория. 1995. Т. 61. N 9.
С. 21-23.
13.Краснолуцкий В.П.,Полуянова Г.И. Известия вузов. Цветная металлургия. 1996. № 5. С.
10-14.
содержание:
[стр.Введение] [стр.1] [стр.2]